低格硬盘
硬盘的初级格局化过程次要是对硬盘做了以下几项工做。
1、对扇区清零和重写校验值。低格过程中将每个扇区的所有字节全数置零，并将每个扇区的校验值也写回初始值，如许能够将部门缺陷矫正过来。譬如，因为扇区数据与该扇区的校验值不合错误应，凡是就被陈述为校验错误（ECC Error）。
若是并不是因为磁介量损伤，清零后就很有可能将扇区数据与该扇区的校验值从头对应起来，而到达“修复”该扇区的成效。那是每种低格东西和每种硬盘的低格过程最根本的操做内容，同时那也是为什么通过低格能“修复大量坏道”的根本原因。别的，DM中的Zero Fill（清零）操做与IBM DFT东西中的Erase操做，也有同样的成效。
2、对扇区停止读写查抄，并测验考试替代缺陷扇区。有些低格东西会对每个扇区停止读写查抄，若是发如今读过程或写过程出错，就认为该扇区为缺陷扇区。然后，挪用通用的主动替代扇区（Automatic reallocation sector）指令，测验考试对该扇区停止替代，也能够到达“修复”的成效。
3、对扇区的标识信息重写。在多年以前利用的老式硬盘（如接纳ST506接口的硬盘），需要在低格过程中重写每个扇区的标识（ID）信息和某些保留磁道的其他一些信息，其时低格东西都必需有如许的功用。但如今的硬盘构造已经大纷歧样，若是再利用多年前的东西来做低格会招致许多令人痛苦的不测。
难怪经常有人在痛苦地高呼：“危险！切勿低格硬盘！我的硬盘已经毁于低格！”
4、对所有物理扇区停止从头编号。编号的根据是P-list中的记录及区段分配参数（该参数决定各个磁道划分的扇区数），颠末编号后，每个扇区都分配到一个特定的标识信息（ID）。
编号时，会主动跳过P-list中所记录的缺陷扇区，利用户无法拜候到那些缺陷扇区（用户没必要在乎永久用不到的处所的好坏）。若是那个过程功败垂成，有可能招致部门以至所有扇区被陈述为标识不合错误（Sector ID not found, IDNF）。要出格留意的是，那个编号过程是按照实正的物理参数来停止的，若是某些低格东西按逻辑参数（以 16heads 63sector为最典型）来停止低格，是不成能停止如许的操做。
5、写磁道伺服信息，对所有磁道停止从头编号。有些硬盘允许将每个磁道的伺服信息重写，并给磁道从头付与一个编号。编号根据P-list或TS记录来跳过缺陷磁道（defect track）,利用户无法拜候（即永久没必要利用）那些缺陷磁道。那个操做也是按照实正的物理参数来停止。
6、写形态参数，并修改特定参数。有些硬盘会有一个形态参数，记录着低格过程能否一般完毕，若是不是一般完毕低格，会招致整个硬盘回绝读写操做，那个参数以富士通IDE硬盘和希捷SCSI硬盘为典型。有些硬盘还可能按照低格过程的记录改写某些参数。